Учреждение Российской академии наук Институт машиноведения Уральского отделения РАН (ИМАШ УрО РАН) (RU)
Изобретатели:
Горкунов Эдуард Степанович (RU) Задворкин Сергей Михайлович (RU) Кузеванов Владимир Федорович (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Институт машиноведения Уральского отделения РАН (ИМАШ УрО РАН) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области неразрушающего контроля наличия дефектов в изделиях из электропроводящих материалов и может быть использовано для выявления дефектов, их количества, пространственного положения, а также геометрических размеров, в том числе в ферро-, пара- и диамагнитных изделиях и материалах. Способ неразрушающего контроля изделий из электропроводящих материалов включает сканирование поверхности контролируемого изделия, считывание, преобразование и обработку информации, полученной в процессе сканирования, а также визуализацию дефектов, при этом через контролируемое изделие пропускают электрический ток и регистрируют распределение напряженности магнитного поля, создаваемого этим током, по поверхности изделия. Создают магнитный образ поверхности контролируемого изделия, визуализируют его и сравнивают полученный магнитный образ с заранее полученным магнитным образом контрольного образца, не содержащего дефекты. По полученным в результате сравнения отклонениям магнитного образа поверхности контролируемого изделия от магнитного образа контрольного образца, представляющим собой магнитные образы выявленных дефектов, судят о количестве и местах расположения дефектов в контролируемом изделии, а затем сравнивают магнитные образы выявленных дефектов с групповыми магнитными образами дефектов, имеющих определенные и известные параметры. По результатам последнего сравнения делают выводы о параметрах выявленных дефектов. Изобретение обеспечивает расширение функциональных возможностей способа за счет выявления дефектов из пара- и диамагнитных материалов. 6 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента