RU 2423689 С2, 10.07.2011. RU 2316761 C1, 10.02.2008. RU 2003118902 A, 20.02.2005. RU 2167416 С2, 27.01.2001. US 6853195 B2, 08.02.2005.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" ГОУ ВПО ТГТУ (RU)
Изобретатели:
Аладинская Анастасия Александровна (RU) Синозацкая Ольга Викторовна (RU) Глинкин Евгений Иванович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" ГОУ ВПО ТГТУ (RU)
Реферат
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению концентрации ионов водорода. Сущность изобретения: в способе определения концентрации ионов водорода за счет измерения электродами с высоким внутренним сопротивлением электрических параметров исследуемой среды по установившемуся потенциалу измеряемого сигнала, соответствующему физико-химическому составу среды, который формируют из динамической разности потенциалов между измерительным и сравнительным электродами измерительной ячейки за счет накопления ионов на измерительном электроде и регистрируют первый интервал времени от момента равенства измеряемого сигнала нижнему пороговому значению до его достижения верхнего порогового значения, дополнительно вводят между нижним и верхним порогами третий порог и регистрируют второй интервал времени от начала измерения до достижения третьего порогового значения, уровень которого определяют в диапазоне от нижнего до верхнего порогов по минимальной относительной погрешности между исследуемой и моделируемой кривыми, за действительное значение третьего порога принимают амплитуду напряжения, соответствующую минимальной погрешности, по кратности первого интервала времени относительно второго интервала времени находят установившееся значение потенциала, по которому определяют концентрацию ионов водорода. Изобретение обеспечивает повышение точности определения за счет снижения динамической и методической погрешности. 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента