RU 2245543 C2, 27.01.2005. SU 446827 A1, 15.10.1974. SU 855492 A1, 15.08.1981. JP 2008122090 A, 29.05.2008. JP 9145698 A, 06.06.1997.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Белгородский государственный университет" (RU)
Изобретатели:
Колобов Юрий Романович (RU) Храмов Георгий Викторович (RU) Голосов Евгений Витальевич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Белгородский государственный университет" (RU)
Реферат
Использование: для определения дефектности титанового проката. Сущность: заключается в том, что для настройки чувствительности и проверки работоспособности дефектоскопа используют тестовые отрезки прутка длиной соответственно 5, 250 и 500 мм контролируемого диаметра с известным коэффициентом затухания Ктест ультразвука на частоте используемого преобразователя, выполненные из материала того же состава, что и контролируемый пруток, имеющие заданную субмикрокристаллическую бездефектную внутреннюю структуру, при этом диаметр преобразователей должен находиться в пределах 0,8-1 от диаметра прутка; на первом этапе определяют условный «ноль» путем измерения ослабления сигнала на тестовом отрезке длиной 5 мм, далее измеряют величину ослабления сигнала на тестовых отрезках длиной 250 и 500 мм с учетом условного «ноля», затем определяют коэффициент затухания Ктест1 путем вычисления отношения ослабления сигнала на тестовом отрезке прутка к длине этого отрезка, делают вывод о готовности дефектоскопа к работе при условии, что определенный измерением каждого тестового образца Ктест1 отличается от известного для каждого тестового образца коэффициента затухания Ктест на величину, не превышающую величину допуска; далее проводят измерение ослабления сигнала для контролируемого прутка и вычисляют для него коэффициент затухания Кконтр, на основании которого определяют качество прутка. Технический результат: упрощение методики определения кристаллографической текстуры.
Поиск патентов
Получить полное описание патента