САЛИХОВА И.Р. Диагностические возможности стероидного профиля мочи при оценке функциональной зрелости плода и прогнозирования состояния новорожденного // Лечебное дело. Периодическое учебное издание РГМУ, Спец. Выпуск, посвященный III Международной конференции молодых ученых «Современные вопросы акушерства и гинекологии», 2009, с.41-43. SU 1412733 A1, 30.07.1988. RU 2009122893, 16.06.2009. RU 2172958 C1, 27.08.2001.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный медицинский университет Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (ГОУ ВПО РГМУ Росздрава) (RU)
Изобретатели:
Макаров Олег Васильевич (RU) Орлов Евгений Николаевич (RU) Салихова Ирина Рашитовна (RU) Чучуева Ирина Александровна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный медицинский университет Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (ГОУ ВПО РГМУ Росздрава) (RU)
Реферат
Изобретение относится к медицине, а именно к акушерству, и предназначено для дифференциальной диагностики степени зрелости плода (СЗП) у беременных в сроки 37-42 недели. Сущность способа заключается в том, что одновременно определяют уровень суточной экскреции прегнандиола, аллопрегнандиола, 16-гидроксиандростерона в моче беременных в сроки 37-42 недели методом капиллярной газовой хроматографии и вычисляют расчетный коэффициент К по формуле: К=4,0313-(0,0115·А+0,0007·В+0,077·С), где А - суточная экскреция прегнандиола; В - суточная экскреция аллопрегнандиола; С - суточная экскреция 16-гидроксиандростерона, в мкмоль/24 часа, и при величине К менее 1,5 диагностируют зрелость плода, при величине К от 1,5 до 2,5 диагностируют незрелость плода, а при величине К более 2,5 диагностируют перезрелость плода. Использование способа позволяет определить оптимальный срок родов, снизить количество детей, рожденных с признаками морфофункциональной незрелости и перезрелости.
Поиск патентов
Получить полное описание патента