|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ФОРМЫ ОСТРОГО ПАНКРЕАТИТА |  |
Номер публикации патента: 2339042 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N033/52 | | Аналоги изобретения: | RU 2253868 C1 10.06.2005. RU 2199121 C2 20.02.2003. UA 21490 U 15.03.2007. ГОЛДИН В.А. и др. Лабораторная дифференциальная диагностика форм острого панкреатита. Актуальные вопросы клинической хирургии. - М., 1993, с.65-67. PEZZILLI R. et all. Одновременное определение липазы и интерлейкина-6 в сыворотке крови для диагностики острого панкреатита и |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Оренбургская государственная медицинская академия Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (ГОУ ВПО ОрГМА Росздрава) (RU) | | Изобретатели: | Дёмин Дмитрий Борисович (RU)
Тарасенко Валерий Семенович (RU)
Щетинин Николай Александрович (RU)
Никоноров Александр Александрович (RU)
Афонина Светлана Николаевна (RU)
Павлова Маргарита Михайловна (RU)
Корнилов Сергей Александрович (RU)
Басов Федор Валерьевич (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Оренбургская государственная медицинская академия Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (ГОУ ВПО ОрГМА Росздрава) (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к медицине, а именно к хирургии, и может быть использовано для оценки тяжести деструктивного процесса при остром панкреатите, а также, для диагностики формы данного заболевания. Сущность способа: у больного в сыворотке крови определяют уровень лактата. При его показателях 1,96±0,19 ммоль/л диагностируют отечный панкреатит, 3,17±0,25 ммоль/л - развитие очагового, 4,59±0,46 ммоль/л - тотально-субтотального панкреонекроза, выше этого показателя - тотального панкр
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента