US 2002/0049549 А1, 25.04.2002. DE 3743064 А1, 09.03.1989. JP 6273200 A, 30.09.1994. US 2003158677 A1, 21.08.2003. DE 19924346 A1, 30.11.2000.
Имя заявителя:
ВАЛТИОН ТЕКНИЛЛИНЕН ТУТКИМУСКЕСКУС (FI)
Изобретатели:
СЕППЯ Хейкки (FI)
Патентообладатели:
ВАЛТИОН ТЕКНИЛЛИНЕН ТУТКИМУСКЕСКУС (FI)
Приоритетные данные:
01.12.2005 FI 20051233
Реферат
Изобретение относится к области приборостроения и может найти применение в системах поверки и контроля измерительных приборов. Технический результат - повышение точности. Для достижения данного результата используют несколько измерительных приборов для измерения требуемой величины и один суммирующий измерительный прибор для измерения величины, которая должна составлять сумму указанных величин. В суммирующем измерительном приборе многократно записывают результаты измерений измерительных приборов, так и суммирующего измерительного прибора. На основе анализа записанных результатов измерений и времени их записи формируют модель относительной ошибки измерения индивидуальных измерительных приборов и отклонения ошибки измерений индивидуальных измерительных приборов. При этом суммирующий измерительный прибор имеет более высокий класс точности, нежели измерительные приборы. 2 н. и 12 з.п. ф-лы, 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента