|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КРИТИЧЕСКОГО ТОКА ВТСП МАТЕРИАЛА Y - BA - CU - O |  |
Номер публикации патента: 2087994 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H01L039/16 G01R019/15 | | Аналоги изобретения: | Дацков В.И. и др. Измерение критического тока кольцевых образцов высокотемпературного сверхпроводника бесконтактным методом. Сборник: Краткие сообщения объединенного института ядерных исследований, N 4, 1988, с. 91-94. |
| Имя заявителя: | Омский государственный университет | | Изобретатели: | Югай К.Н.
Тихомиров В.В.
Скутин А.А.
Кузин В.В.
Сычев С.А.
Карелин В.И.
Серопян Г.М. | | Патентообладатели: | Омский государственный университет |
Реферат | |
Изобретение относится к области исследования характеристик ВТСП материалов. Сущность способа, основанного на индукционном возбуждении кольцевого тока в образце и определении критического тока по величине тока возбуждающей катушки индуктивности, заключается в том, что возбуждают кольцевой ток в образце произвольной плоской формы полем синусоидального тока возрастающей амплитуды на частоте 340 - 360 кГц, регистрируют на выходе приемной катушки синусоидальный сигнал, имеющий в области максимума амплитуды провал до нулевого уровня потенциала, и увеличивают амплитуду возбуждающего синусоидального тока до появления в области провала потенциала, отличного от нуля, по зарегистрированной в этот момент амплитуде возбуждающего тока определяют величину критического тока образца. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента