На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТНОГО ПОТЕНЦИАЛА | |
Номер публикации патента: 2156983 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R029/14 | Аналоги изобретения: | АЛЕЙНИКОВ Н.М. и др. Приборы и техника эксперимента. 1974, 6, с.188. SU 1516994 A1, 23.10.1989. SU 1307995 A1, 30.04.1989. US 5189377 A, 23.02.1993. |
Имя заявителя: | Воронежский государственный университет | Изобретатели: | Алейников Н.М. Алейников А.Н. | Патентообладатели: | Воронежский государственный университет |
Реферат | |
Модифицированный метод Кельвина измерения контактной разности потенциалов позволяет наблюдать изменения поверхностного электростатического потенциала металла или полупроводника на экране осциллографа. Для этого на обкладки динамического конденсатора, образованного исследуемым образцом и вибрирующим эталонным электродом, подают одновременно постоянное напряжение и синусоидальное напряжение модуляции.
|