RU 2150120 С1, 25.05.2000. RU 2309416 С1, 27.10.2007. RU 2007112186 А1, 10.10.2008. US 3992666 А, 16.11.1976. US 4325023 А, 13.04.1982. US 4649496 А, 10.03.1987.
Имя заявителя:
Министерство обороны Российской Федерации Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ВОЕННАЯ АКАДЕМИЯ СВЯЗИ имени С.М. Буденного (RU)
Изобретатели:
Алашеев Вадим Викторович (RU) Белов Александр Владимирович (RU) Ерышов Вадим Георгиевич (RU) Иванов Юрий Николаевич (RU) Липатников Валерий Алексеевич (RU) Стародубцев Юрий Иванович (RU) Худайназаров Юрий Кахрамонович (RU)
Патентообладатели:
Министерство обороны Российской Федерации Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ВОЕННАЯ АКАДЕМИЯ СВЯЗИ имени С.М. Буденного (RU)
Реферат
Изобретение относится к средствам контроля работы электронного оборудования и может быть использовано для контроля и идентификации сложных многопараметрических объектов (МПО), характеризующихся наличием излучаемого ими электромагнитного поля. Технический результат - повышение вероятности идентификации разнородных МПО. Это обеспечивается путем использования механизмов анализа, позволяющих выявлять незначительные изменения нескольких контролируемых параметров идентифицируемых МПО и возможности при этом их достоверной идентификации. Благодаря новой совокупности существенных признаков в заявленном способе обеспечивается повышение вероятности идентификации МПО, снимается неопределенность относительно типа, подкласса, класса МПО при его обнаружении и идентификации за счет учета: новых введенных показателей: центров тяжести параметров классов, подклассов МПО, использования механизмов нормировки и поэтапного сравнения центров тяжести параметров классов, подклассов эталонных и идентифицируемого МПО, которые позволяют выявлять принадлежность идентифицируемого МПО соответственно к классу, подклассу и типу МПО. Таким образом, обеспечивается существенное повышение вероятности идентификации МПО, достигнутое в заявленном способе по сравнению со способом-прототипом, что указывает на возможность достижения запланированного результата с помощью предлагаемого технического решения. 1 з.п. ф-лы, 18 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента