|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБОРА ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2295735 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/303 | | Аналоги изобретения: | RU 2146827 C1, 20.03.2000. RU 2168735 C2, 10.02.2001. SU 285710 А, 27.10.1976. US 4816753 A, 28.03.1989. ОСТ 11 073.043-75. Приборы полупроводниковые и микросхемы интегральные. Метод контроля качества с помощью m-характеристик. 1975. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU) | | Изобретатели: | Горлов Митрофан Иванович (RU)
Козьяков Николай Николаевич (RU)
Плебанович Владимир Иванович (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности. Технический результат: высокий уровень достоверности. Сущность: проводят измерения m-характеристик цепей интегральных схем в диапазоне прямого тока (1-10 мА) в исходном состоянии, после воздействия 5-10 электростатических разрядов (ЭСР) положительной и отрицательной полярности и после термического отжига в течение 4-8 часов.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента