|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ОДНОТИПНЫХ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ В ГРУППЕ |  |
Номер публикации патента: 2123190 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R035/00 | | Аналоги изобретения: | Кузнецов В.А., Ялунина Г.В. Основы метрологии. - М.: Изд. стандартов, 1995, с.239 и 240. Ермишин С.М. Контроль метрологических характеристик однотипных измерительных средств на основе групповой меры. Измерительная техника. - 1995, N 4, с.7-9. |
| Имя заявителя: | Ермишин Сергей Михайлович | | Изобретатели: | Ермишин Сергей Михайлович
Теплинский Иван Сергеевич
Шайко Иван Антонович | | Патентообладатели: | Ермишин Сергей Михайлович
Теплинский Иван Сергеевич
Шайко Иван Антонов |
Реферат | |
Изобретение относится к области метрологии. Достигаемый технический результат заключается в упрощении процедуры определения метрологических: характеристик, а также в снижении материальных, трудовых и временных затрат. Способ заключается в том, что на вход исследуемой совокупности однотипных средств измерений подают либо с ее выхода снимают одинаковую измеряемую величину; необходимые для определения метрологических характеристик средств измерений рабочие эталоны выделяют из исследуемой группы однотипных средств измерений; для определения метрологических характеристик средств измерений, оставшихся в группе после выделения эталонов, формируют групповой параметр на основе показаний рабочих эталонов статистическими процедурами, а показатели качества определения метрологических характеристик находят на основе статистических процедур, использующих известный уровень доверия к групповому параметру. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента