|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБОРА ЭТАЛОНОВ ИЗ СОВОКУПНОСТИ ОДНОТИПНЫХ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ |  |
Номер публикации патента: 2123707 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R035/00 | | Аналоги изобретения: | Основополагающие стандарты в области метрологии. - М.: Изд. стандартов, 1986, с. 178. Метрологическое обеспечение и эксплуатация измерительной техники. /Под ред. В.А.Кузнецова. - М.: Радио и связь, 1990, с. 28 - 29. Метрология в технике радиосвязи. /Под ред. А.Ф.Пионтковской. - М.: Радио и связь, 1980, с. 20 - 25. |
| Имя заявителя: | Ермишин Сергей Михайлович | | Изобретатели: | Ермишин Сергей Михайлович
Теплинский Иван Сергеевич
Шайко Иван Антонович | | Патентообладатели: | Ермишин Сергей Михайлович
Теплинский Иван Сергеевич
Шайко Иван Антонов |
Реферат | |
Изобретение относится к области метрологии. Технический результат изобретения заключается в повышении эффективности процедуры отбора эталонов за счет уменьшения материальных, трудовых и временных затрат. Способ заключается в том, что на вход исследуемой совокупности однотипных средств измерений подают либо с ее выхода снимают одинаковую измеряемую величину, вследствие отсутствия при эксплуатации причин одновременного ухода метрологических характеристик совокупности однотипных средств измерений определяют реальную погрешность и класс точности средств измерений исследуемой совокупности и рассчитывают статистические показатели качества отбора эталонов, используя статистические характеристики близости показаний средств измерений с известным статистическим уровнем доверия в метрологически однородной по статистическим показателям подгруппе из исследуемой совокупности, если найденные реальная погрешность, класс точности и статистические показатели качества отбора эталонов соответствуют предъявляемым требованиям, то принимают решение об использовании средств измерений из метрологически однородной подгруппы в качестве эталонов. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента