|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ |  |
Номер публикации патента: 2225989 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/00 G01R035/00 | | Аналоги изобретения: | ЧЕРНЫШОВА Т.И. и др. Метрологическая надежность измерительных средств. - М.: Машиностроение, 2001, с.96. RU 2168735 С2, 10.06.2001. RU 2123190 С1, 10.12.1998. GB 2246639 А, 05.02.1992. |
| Имя заявителя: | Тамбовский государственный технический университет | | Изобретатели: | Чернышова Т.И.
Шиндяпин Д.А. | | Патентообладатели: | Тамбовский государственный технический университет |
Реферат | |
Использование: для оценки, прогнозирования и повышения метрологической надежности электронных средств измерений. Технический результат заключается в повышении точности оценки и повышении метрологической надежности средств измерений. Способ заключается в создании для аналогового блока электронного средства измерения математических моделей его метрологических характеристик, статистическом моделировании состояния метрологических характеристик в различных временных сечениях с использованием сведений
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента