|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРОЕНИЯ ПРОСТРАНСТВ С РАЗМЕРНОСТЬЮ ДО 4 - Х ПРЕДСТАВЛЕННЫХ МНОГОПАРАМЕТРОВЫМИ ЦИФРОВЫМИ МАССИВАМИ ДАННЫХ С РАЗМЕРНОСТЬЮ ДО 4 - Х |  |
Номер публикации патента: 2118837 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01V001/00 G01V001/28 G01V001/30 G06T017/00 | | Аналоги изобретения: | R.Joung, N.Milton, H.Turnell, O.Fuglestad. The use of 3D visualisation in exploration. EAEG-55 th Meeting and Technical Exhibition - Stavanger, Norway, 7-11 June 1993, A050. SU A1, 1644171, 1991. SU A1, 1434456, 1988. SU A1, 1679535, 1961. US A1, 5341466, 1994. US A, 5408596, 18.04.95. WO A, 92/17798, 1992. US A, 4633448, 1986. |
| Имя заявителя: | Кашик Алексей Сергеевич | | Изобретатели: | Кашик А.С.
Кивелиди В.Х.
Гогоненков Г.Н.
Тертицкий Л.М.
Джапаридзе А.Ю. | | Патентообладатели: | Кашик Алексей Сергеевич |
Реферат | |
Изобретение может быть использовано во многих отраслях технике, в частности в геологической разведке, медицине, при всех видах дефектоскопии и т. д. Способ предусматривает выделение в трехмерной решетке одномерных, двухмерных или трехмерных смотровых областей различной формы. Смотровые области перемещают в исследуемом пространстве по произвольным траекториям в любых направлениях с постоянной или переменной скоростью. При этом визуализируется та часть пространства, которая попадает в смотровую область. Вся визуализируемая информация сохраняется на устройстве визуализации. Также запоминается траектория движения смотровых областей. В смотровой области могут быть визуализированы изменения параметров во времени. Форма смотровой области может непрерывно изменяться по мере ее перемешивания. Способ обеспечивает пользователю быстрый доступ в любую точку исследуемого пространства по любым направлениям, выделение любых произвольных участков этого пространства, что повышает детальность, точность и эффективность исследований. 1 з.п.ф-лы, 5 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента