|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ САМОСВЕТЯЩИХСЯ ОБЪЕКТОВ |  |
Номер публикации патента: 2178899 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01V003/40 G01R033/02 | | Аналоги изобретения: | SU 335652, 11.04.1972. RU 2071096 С1, 27.12.1996. US 4563646, 07.01.1986. ЕР 0935141 А2, 11.08.1989. |
| Имя заявителя: | Институт солнечно-земной физики СО РАН | | Изобретатели: | Кобанов Н.И. | | Патентообладатели: | Институт солнечно-земной физики СО РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области астрофизических измерений и предназначено для исследования структуры и динамики магнитных полей в атмосфере Солнца. Технический результат: способ позволяет одновременно измерять продольную напряженность магнитного поля и лучевую скорость всего за одну экспозицию, что значительно ослабляет действие атмосферных нестабильностей и сокращает время наблюдений. Сущность изобретения: измеряют интенсивность светового излучения одновременно на участке переналожения спектральных компонент Фl rb, синем Фl b и красном Фl r крыльях спектральной линии, а также на ближайшем к линии участке непрерывного спектра Фс. Напряженность магнитного поля вычисляют по формуле:
где kН - калибровочный коэффициент. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента