US 4910397 A, 20.03.1990. RU 2113723 C1, 20.06.1998. RU 2001129246 A, 27.07.2003. SU 1076849 A1, 28.02.1984. US 4097737 A, 27.06.1978. US 4760252 A, 26.07.1988.
Имя заявителя:
Общество с ограниченной ответственностью "ТНГ-Групп" (RU)
Изобретатели:
Киргизов Дмитрий Иванович (RU) Лифантьев Виктор Алексеевич (RU) Мухамадиев Рамиль Сафиевич (RU) Воронков Лев Николаевич (RU) Баженов Владимир Валентинович (RU)
Патентообладатели:
Общество с ограниченной ответственностью "ТНГ-Групп" (RU)
Реферат
Использование: для ядерно-геофизических исследований скважин импульсными нейтронными методами. Сущность: заключается в том, что выполняют облучение пласта импульсным источником нейтронов, регистрацию излучения в стволе скважины в нескольких точках и определение соответствующего значения плотности и насыщенности, при этом исследуемую породу облучают быстрыми нейтронами, периодически переключая частоту следования импульсов с высокой (от 5 кГц до 13 кГц) на низкую (от 20 Гц до 2000 Гц) и обратно, при этом в периоды времени, когда излучатель работает на высокой частоте следования импульсов, одновременно регистрируют плотность поля надтепловых и тепловых нейтронов в одной или более точках пространства, а в периоды времени, когда излучатель работает на низкой частоте следования импульсов, регистрируют плотность поля тепловых нейтронов в одной или более точке пространства, причем плотность поля надтепловых и тепловых нейтронов регистрируют в промежутках следования импульсов излучения на различных временных задержках после окончания импульса излучения быстрых нейтронов. Технический результат: повышение точности и достоверности получаемых результатов исследования. 2 н.п. ф-лы, 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента