|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ ПАРТИИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ ПО РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2149417 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/28 G06F011/22 | | Аналоги изобретения: | 1. JP 1-58536 B2, 12.12.1989. 2. JP 63-56570 B2, 11.08.1988. 3. Глудкин О.П. и др. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. - М.: Энергия, 1980, с.255. 4. Борисенко В.Е. и др. Моделирование цифровых биполярных ИС, работающих при радиационном воздействии. - Зарубежная электронная техника, 1975, N 5, с.34 - 59. 5. RU 95103986 A1, 27.07.1996. |
| Имя заявителя: | Владимирский государственный университет | | Изобретатели: | Давыдов Н.Н.
Бушевой С.Н.
Бутин В.И.
Кудаев С.В. | | Патентообладатели: | Давыдов Николай Николаевич
Бушевой Сергей Николаевич
Бутин Валентин Иванович
Кудаев Сергей Валентинович |
Реферат | |
Изобретение относится к области испытания и контроля цифровых полупроводниковых интегральных микросхем (ИС) и может быть использовано в сборочном производстве электронных средств при входном контроле показателей радиационной стойкости ИС, содержащих запоминающие устройства (ЗУ). Задачей, решаемой изобретением, является снижение трудоемкости и повышение оперативности и достоверности разбраковки партии ИС ЗУ на группы с различными показателями радиационной стойкости. Для этого из партии ИС ЗУ, подлежащих разбраковке, отбирают представительную выборку микросхем и для каждой микросхемы из выборки проводят электрические измерения при помощи тестирующего устройства. На шины питания каждой микросхемы ЗУ подают с выхода источника питания линейно нарастающее до номинального значения напряжение питания, считывают содержимое матрицы элементов памяти ИС ЗУ в дополнительное запоминающее устройство контроллера, последовательно перебирая адреса всех ячеек в матрице ИС ЗУ. Затем поразрядно инвертируют в контроллере считанное содержимое и получают тестовый информационный массив, который записывают в испытуемую микросхему по соответствующим адресам. После этого измеряют время сохранения тестового информационного массива при импульсном отключении напряжения питания ИС. Далее проводят радиационные испытания всех микросхем выборки известными методами и определяют уровень бессбойной работы (УБР) каждой из них. По размаху значений УБР устанавливают количество групп разбраковки ИС. 5 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента