RU 2286598 C1, 27.10.2006. RU 2250498 C2, 20.04.2005. RU 2298883 C2, 10.05.2007. RU 2321888 C1, 20.04.2005. US 6529853 B1, 04.03.2003. WO 0176261 A2, 11.10.2001. ФОРСАЙТ Д. и ПОНС Ж. Компьютерное зрение. Издательский дом Вильямс, 2004, с.87-108. PETER MEER, ROBUST TECHNIQUES FOR COMPUTER VISION, Emerging Topics in Computer Vision, Gerard Medioni and Sing Bing Kang (Eds.), Prentice Hall, 2004.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Курский государственный технический университет (RU)
Изобретатели:
Титов Дмитрий Витальевич (RU) Труфанов Максим Игоревич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Курский государственный технический университет (RU)
Реферат
Изобретение относится к вычислительной технике для определения и приведения к заданным значениям параметров видеокамер, работающих в составе системы технического зрения, состоящей из трех видеокамер, две из которых получают детализированное изображение, а третья является обзорной. Техническим результатом является калибровка системы технического зрения, содержащей три видеокамеры, которые после калибровки должны быть расположены на одной прямой и направлены перпендикулярно этой прямой, причем две крайние видеокамеры имеют узкий угол обзора и равные фокусные расстояния, а третья видеокамера, расположенная в центре между крайними видеокамерами, имеет широкий угол обзора. Указанный результат достигается тем, что предложено устройство автоматической адаптивной трехмерной калибровки бинокулярной системы технического зрения, содержащее первую видеокамеру, первый блок ввода изображения, первый блок ориентации, вторую видеокамеру, второй блок ввода изображения, второй блок ориентации, системный контроллер и блок управления, дополнительно введены третья видеокамера, третий блок ввода изображения и третий блок ориентации. Точность калибровки системы технического зрения достигается за счет последовательной попарной калибровки различных пар видеокамер. 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента