|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП |  |
Номер публикации патента: 1833046 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H01J037/285 | | Аналоги изобретения: | Бинниг Д., Рорер Г. Растровый туннельный микроскоп. - В мире науки/ Пер. с англ., М.: Мир, 1985, N 10 с. 26-33. Патент Швейцарии N 643397, кл. H 01 J 37/285, опублик. 1984. |
| Имя заявителя: | Институт радиотехники и электроники АН СССР | | Изобретатели: | Кислов В.В.
Панов В.И |
Реферат | |
Изобретение относится к туннельной микроскопии и может быть использовано для исследований быстропротекающих динамических процессов на поверхностях изучаемых объектов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей сканирующего туннельного микроскопа за счет расширения диапазона временных характеристик исследуемых процессов. Микроскоп содержит по крайней мере два игольчатых эмиттера с соответствующими пьезоприводами сканирования, позиционер образца, аналоговые системы управления в цепи каждого из игольчатых эмиттеров, включающие усилители туннельного тока, системы обратной связи, выходы которых соединены с входами блоков задания режимов туннелирования и блока сравнения, выходы которого соединены с усилителями управляющих сигналов пьезоприводов сканирования. Блок сравнения через систему согласования связан с вычислительным устройством. 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента