|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА ТУННЕЛЬНЫМ МИКРОСКОПОМ |  |
Номер публикации патента: 2358352 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H01J037/285 | | Аналоги изобретения: | SU 1778820 A1, 30.11.1992. RU 2109369 С1, 20.04.1998. RU 2047930 С1, 10.11.1995. US 2002020814 A1, 21.02.2002. WO 9013907 A1, 15.11.1990. |
| Имя заявителя: | Институт Прикладной Механики УрО РАН (RU) | | Изобретатели: | Шелковников Евгений Юрьевич (RU) | | Патентообладатели: | Институт Прикладной Механики УрО РАН (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел. Способ исследования поверхности твердого тела сканирующим туннельным микроскопом (СТМ) включает формирование проводящей реплики исследуемой поверхности, сканирование этой реплики туннельным микроскопом с одной стороны, а затем с обратной - этой же иглой, но зеркально развернутой в плоскости сканирования, совмещение прямого и инвертированного обратного СТМ-изображений, реконструк
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента