|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
| СПОСОБ ФОТОННОЙ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ И ФОТОННЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП |  |
Номер публикации патента: 94028284 |  |
| Вид документа: | A1 | | Страна публикации: | RU | | Рег. номер заявки: | 94028284 |
|
|
|
| Имя заявителя: | Сосьете Д, Инвестиссеман Дан Ля Микроскопи (СИМ С.А.) (FR) | | Изобретатели: | Томас Л.Феррелл (FR), Роберт Д.Вармек (FR), Робин С.Реддик (FR) | | Номер конвенционной заявки: | 260926 | | Страна приоритета: | US | | Патентный поверенный: | Матвеева Н.А. |
Реферат | |
Способ фотонной сканирующей туннельной микроскопии и фотонный сканирующий туннельный микроскоп предназначены для излучения образца в сканируемой зоне. Способ представляет собой генерацию ближнего поля света в зоне образца, которое имеет возрастающую интенсивность в направлении, нормальном к поверхности. Ближнее поле света проверяется зондом, получающим фотоны из этого ближнего поля, которые проходят за счет туннельного эффекта к поверхности зонда. Полученные фотоны детектируются, а детектор вырабатывает выходной сигнал, который пропорционален числу фотонов, полученных зондом. Сканирование осуществляется в зоне образца зондом по меньшей мере в одном направлении. Контроль выходного сигнала при движении зонда для определения выходной информации осуществляют по распределению интенсивности света в направлении к зоне образца. Также описан фотонный сканирующий туннельный микроскоп для осуществления указанного способа.
|
Поиск патентов