|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ИОНИЗАЦИОННОЙ КАМЕРЫ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ И ЗАЩИТЫ ЯДЕРНОГО РЕАКТОРА |  |
Номер публикации патента: 2154288 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01T003/00 H01J047/02 | | Аналоги изобретения: | ДМИТРИЕВ В.Б., МАЛЫШЕВ Е.К. Нейтронные ионизационные камеры для реакторной техники. - М.: Атомиздат, 1975, с. 46. DE 1210093 А4, 03.02.1996. US 4103166 А4, 25.07.1978. ЛЕВИН В.В., ХАМЬЯНОВ Л.П. Измерение ядерных излучений . - М.: Атомиздат, 1969, с.145-149. |
| Имя заявителя: | Научно-исследовательский технологический институт им. А.П. Александрова | | Изобретатели: | Панкин А.М.
Башарин С.А.
Даниленко В.П. | | Патентообладатели: | Научно-исследовательский технологический институт им. А.П. Александрова |
Реферат | |
Изобретение относится к ядерной энергетике, в частности к системам управления и контроля ядерных реакторов, и предназначено для технического диагностирования ионизационных камер (ИК). Сущность изобретения состоит в том, что для нахождения вольт-амперной характеристики ионизационной камеры используется эквивалентная схема замещения электрической цепи, в которой камера представлена в виде нелинейного параметрически зависимого двухполюсника.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента