RU 2198451 С2, 10.02.2003. RU 2193080 С2, 20.11.2002. RU 2243613 C1, 27.12.2004. US 4962051 A, 09.10.1990. US 2009/134460 A1, 28.05.2009. WO 01/73821 A2, 04.10.2001. DE 102006028718 A1, 27.12.2007.
Имя заявителя:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) (RU)
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) (RU)
Реферат
Использование: в технологии производства полупроводниковых приборов. Технический результат изобретения - снижение плотности дефектов в полупроводниковых структурах, обеспечивающее технологичность, улучшение параметров структур, повышение качества и увеличение процента выхода годных. Сущность изобретения: полупроводниковую структуру формируют путем проведения процесса легирования протонами кремниевой подложки сначала дозой 1·1015 см -2 с энергией 100 кэВ, затем дозой 2·1015 см-2 с энергией 200 кэВ с последующим отжигом при температуре 400-500°С в течение 20-40 мин и имплантацией ионов азота в два этапа: дозой 2,5·1013 см -2 с энергией 60-100 кэВ и дозой 7,5·1013 см-2 с энергией 120-200 кэВ. 1 табл.