Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПОСОБ ЗАЩИТЫ ОТ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОГО РАЗРЯДА В УСТРОЙСТВЕ ТРЕХМЕРНОЙ (3 - D) МНОГОУРОВНЕВОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ СХЕМЫ, УСТРОЙСТВО (3 - D) МНОГОУРОВНЕВОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ СХЕМЫ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ

Номер публикации патента: 2469434

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2011113741/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: H01L025/065    
Аналоги изобретения: US 2002/115260 A1, 22.08.2002. US 2007/0029646 A1, 08.02.2007. US 5807791 A, 15.09.1998. US 5703747 A, 30.12.1997. RU 99116320 A, 10.07.2001. 

Имя заявителя: КВЭЛКОММ ИНКОРПОРЕЙТЕД (US) 
Изобретатели: КАСКУН Кеннет (US)
ГУ Шицюнь (US)
НОВАК Мэтью (US) 
Патентообладатели: КВЭЛКОММ ИНКОРПОРЕЙТЕД (US) 
Приоритетные данные: 09.09.2008 US 12/206,914 

Реферат


Изобретение относится к системам и способам для обеспечения защиты от электростатического разряда в трехмерных многоуровневых интегральных схемах. Сущность изобретения: устройство трехмерной (3-D) многоуровневой интегральной схемы содержит первый и второй полупроводниковые кристаллы, наложенные друг на друга, множество сквозных переходных отверстий, сформированных, чтобы проходить, по существу, между активными слоями первого и второго полупроводниковых кристаллов, и выполненных с возможностью обеспечения связи между первым и вторым полупроводниковыми кристаллами, и активную схему, сформированную, по меньшей мере, частично внутри, по меньшей мере, одного из множества сквозных переходных отверстий, причем первый и второй полупроводниковые кристаллы совместно используют активную схему, по меньшей мере, для защиты от электростатического разряда. Изобретение позволяет осуществить экономию пространства и сократить площадь кристалла, требуемую для схемы ESD-защиты. 3 н. и 8 з.п. ф-лы, 12 ил.

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"