|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО СЧИТЫВАНИЯ ДЛЯ ДВУМЕРНЫХ ПРИЕМНИКОВ ИЗОБРАЖЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2111580 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H01L029/768 | | Аналоги изобретения: | 1. A.Ballingal et al. Two dimensional infrared focal peane arrays utilisity a direct injection input scheme. SPIE vol.685, Infrared Technology XII, p.115-122, 1986. 2. G.L.Kurishev et al. Fabrication and properties of two - dimensional hybrid array sensor on epitaxial n-In As films. SPIE vol.2746, Infrared Detectors and Focal Plane Arrays iv, p.268-276, 1996. |
| Имя заявителя: | Институт физики полупроводников СО РАН | | Изобретатели: | Ли И.И.
Половинкин В.Г. | | Патентообладатели: | Институт физики полупроводников СО РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к интегральной микроэлектронике и может быть использовано в системах обработки оптической информации. Сущность изобретения: устройство считывания выполнено на полупроводниковой подложке и содержит матрицу входных устройств, многовыходной сдвиговый регистр с последовательным входом, первую, вторую и дополнительную шины управления, мультиплексор, каждая строка матрицы входных устройств содержит первый и второй МДП-транзисторы, первую и вторую строчные шины управления, каждый столбец матрицы входных устройств - столбцовую шину считывания, а каждое входное устройство содержит конденсатор, МДП-транзистор, при этом соединение истоков второго МДП-транзистора с периодом в четыре ячейки многовыходного сдвигового регистра с последовательным входом меняется: для первых двух выходов многовыходного сдвигового регистра с последовательным входом истоки второго МДП- транзистора соединены с второй шиной управления, для третьих и четвертых выходов многовыходного сдвигового регистра с последовательным входом истоки второго МДП-транзистора соединены с дополнительной шиной управления. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента