Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА С ПОЛУПРОВОДНИКОВЫМ ДАТЧИКОМ НА ОСНОВЕ КАРБИДОКРЕМНИЕВОГО ДИОДА ШОТКИ

Номер публикации патента: 2224332

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2002119492/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: H01L031/108    
Аналоги изобретения: BADILA V. et al., Lift-Off technology for SiC UV detectors/-Diamond and related materials, 2000, № 9, р. 994-997. RU 2166221 С1, 27.04.2001. RU 2178601 С1, 20.01.2002. US 5093576 А, 03.03.1992. 

Имя заявителя: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет,Государственное предприятие "Центр технологий микроэлектроники" 
Изобретатели: Афанасьев А.В.
Ильин В.А.
Петров А.А. 
Патентообладатели: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет
Государственное предприятие "Центр технологий микроэлектроники" 

Реферат


Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано в конструкции измерительной системы (ИС) температуры и/или ультрафиолетового излучения (УФИ). Для измерения температуры и возможности регистрации УФИ одним датчиком в условиях повышенной температуры ИС с полупроводниковым датчиком на основе карбидокремниевого диода Шотки (ДШ), содержащим подложку, выполненную из монокристаллического карбида кремния n+-типа проводимости с эпитаксиальным n-слоем, омический электрод (ОЭ), соединенный


Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"