|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ВОЛОКНА ОПТИЧЕСКОГО КАБЕЛЯ СВЯЗИ (ВАРИАНТЫ) |  |
Номер публикации патента: 2179374 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H04B010/08 G01M011/02 G01R031/11 | | Аналоги изобретения: | EP 0907073 А1, 04.07.1999. RU 2128885 С1, 04.10.1999. RU 2152689 С1, 10.07.2000. US 5383207 А, 17.01.1995. US 5623336 А, 02.04.1997. |
| Имя заявителя: | Дубинский Александр Михайлович | | Изобретатели: | Дубинский А.М.
Иевлев О.Л. | | Патентообладатели: | Дубинский Александр Михайлович
Иевлев Олег Львович |
Реферат | |
Изобретение относится к контролю характеристик волоконно-оптического кабеля, используемого в системах связи, для измерения распределенной температуры и напряжения вдоль оптических волокон. Техническим результатом, обеспечиваемым изобретением, является повышение точности и расширение функциональных возможностей путем использования рассеяния как Бриллюэновского, так и Рамановского. Оптическая мощность малокогерентного лазера, испускающего свет непрерывной волны с частотой накачки, поступает через управляемый оптический затвор на первый вход сумматора и на вход волоконно-оптического кольца, служащего для регенерации обратной волны Стокса за счет Бриллюэновского вынужденного комбинационного рассеяния (ВКР) в элементе активной среды, частота смещения Стокса в которой равна частоте смещения Стокса в исследуемом волокне. Суммарная мощность импульсной волны накачки с оптической частоты wн и непрерывной волны Стокса с оптической частотой wн-Ωco с выхода сумматора через проходное плечо измерительного направленного ответвителя поступает на вход исследуемого волокна. Результирующий эхо-сигнал от всех доменов (элементов) разрешения поступает через направленное плечо измерительного направленного ответвителя на вход фотоприемного устройства, в котором детектируется, усиливается и после преобразования поступает для анализа в процессорное устройство. В результате измерений определяется изменение затухания сигнала по длине тестируемого волокна, что происходит из-за наличия неоднородностей в структуре последнего, определяется вид и местоположение упомянутых неоднородностей. 2 с. и 2 з.п. ф-лы, 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента