На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ СЧИТЫВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ И СИСТЕМА СЧИТЫВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2325780 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | H04N005/335 | Аналоги изобретения: | RU 2012156 С1, 30.04.1994. JP 10-93868 А, 10.04.1998. JP 08-256293 А, 01.10.1996. JP 08-116044 A, 07.05.1996. |
Имя заявителя: | КЭНОН КАБУСИКИ КАЙСЯ (JP) | Изобретатели: | ИСИИ Такамаса (JP) МОРИСИТА Масаказу (JP) МОТИЗУКИ Тиори (JP) ВАТАНАБЕ Минору (JP) НОМУРА Кейити (JP) | Патентообладатели: | КЭНОН КАБУСИКИ КАЙСЯ (JP) |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Изобретение относится к устройствам считывания изображения излучения и может быть использовано в медицинской диагностике на основе изображений. Технический результат - свободное переключение чувствительности устройства считывания изображения излучения в соответствии с режимом фотографирования неподвижного изображения и движущегося изображения, которые значительно отличаются друг от друга дозой облучения излучением - достигается тем, что электрод истока или стока (тонкопленочного транзистора) TFT
|